한국 제안 국제표준 현황
| 표준정보 | ||||
|---|---|---|---|---|
| 표준정보 | 표준화기구명 | IEC | 표준화분과 | IEC TC 113 |
| 표준번호 | IEC TS 62607-6-38 | 제/개정 구분 | 개정 | |
| 최근 표준화 단계 | RDTS / 2025-12-03 | |||
| 표준명 | Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-38: Graphen- related products – Measurement of Schottky barrier heights of 2D material-based field-effect transistors | |||
| 표준연계과제 여부 | N | |||
| 표준문서 유형 | TS | 버전 | ed.1 | |
| 제안자 정보 | ||||
| 제안자 정보 | 제안자 소속 | 성균관대학교 | 프로젝트리더 소속 | 성균관대학교 |
| 간사기관 | ||||
제안현황
DTS received and registered
RDTS
2025.12.03-
NP 제안10.00
2024.03.08
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NP 승인10.99
2024.06.14
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WD 등록20.99
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CD 승인30.99
2025.10.31
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DIS 승인40.99
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발간 예정60.60
2026.04.01